晶硅電池隱裂檢PECVD鍍膜檢測(cè)模塊
主要用于硅片來料隱性裂紋等缺陷的檢測(cè)
檢測(cè)工位： 鍍膜段
檢測(cè)內(nèi)容： 色差、色斑、亮斑、臟污、過刻、油污、卡點(diǎn)燒焦、劃傷、崩邊、缺角、針孔、尺寸、白斑、手指印等
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產(chǎn)品介紹 
參數(shù)性能 
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 
缺陷圖例 